インテル® DAAL プログラミング・ガイド
2 つのクラス C1 および C2、分類アルゴリズムの予測段階で計算されたクラスラベルのベクトル X= (x1, …, xn) および予測されたクラスレベルのベクトル Y= (y1, …, yn) で、混同行列と結合された品質メトリック (適合率、再現率、その他) を計算して分類器を評価します。
さらなる定義は以下の表記を使用します。
tp (真陽性)  | 
クラス C1 の正しく認識された観測数 | 
tn (真陰性)  | 
クラス C1 に属していない正しく認識された観測数 | 
fp (偽陽性)  | 
クラス C1 に誤って割り当てられた観測数 | 
fn (偽陰性)  | 
クラス C1 に属していると認識されなかった観測数 | 
ライブラリーは、二項分類器に以下の品質メトリックを使用します。
品質メトリック  | 
定義  | 
|---|---|
正解率  | 
  | 
適合率  | 
  | 
再現率  | 
  | 
F 値  | 
  | 
特異度  | 
  | 
曲線下面積 (AUC)  | 
  | 
評価フォーカスを含む、これらのメトリックの詳細は、[Sokolova09] を参照してください。
混同行列は以下のように定義されます。
クラス C1 として分類  | 
クラス C2 として分類  | 
|
実際のクラス C1  | 
tp  | 
fn  | 
実際のクラス C2  | 
fp  | 
tn  |